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繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 Model 19036

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產(chǎn)品型號:Model 19036

產(chǎn)品名稱:繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 Model 19036

廠商名稱:致茂

產(chǎn)品屬性:繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

Chroma 19036為繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀結(jié)合了耐壓測試 (AC/DC)、絕緣電阻測量 (IR)、直流電阻測量 (DCR) 與脈沖測試( IWT) 于一臺單機,擁有耐壓測試蕞高AC 5kV/DC 6kV、絕緣電阻測量蕞高DC 5kV、四線式直流電阻測量范圍2mΩ~2MΩ與脈沖測試蕞高DC 6kV,且擁有10通道可執(zhí)行一次多個待測物的掃描測試,搭配外接通道掃描盒蕞多可達到40通道的多組掃描測試,能節(jié)省測試時間及人力成本,并大幅提升生產(chǎn)效率。

¥:RMB
概述

可編程交&直流電子負載

Chroma 19036為繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀結(jié)合了耐壓測試 (AC/DC)、絕緣電阻測量 (IR)、直流電阻測量 (DCR) 與脈沖測試( IWT) 于一臺單機,擁有耐壓測試蕞高AC 5kV/DC 6kV、絕緣電阻測量蕞高DC 5kV、四線式直流電阻測量范圍2mΩ~2MΩ與脈沖測試蕞高DC 6kV,且擁有10通道可執(zhí)行一次多個待測物的掃描測試,搭配外接通道掃描盒蕞多可達到40通道的多組掃描測試,能節(jié)省測試時間及人力成本,并大幅提升生產(chǎn)效率。

電氣閃絡(luò)偵測 Flashover Detection (ARC)

電氣閃絡(luò)的現(xiàn)象是因電位差或電場強度足以導(dǎo)致絕緣材料的內(nèi)部或表面失去原有的絕緣特性所產(chǎn)生的暫態(tài)或非連續(xù)性放電。當(dāng)放電的能量釋放足以對產(chǎn)品的絕緣材料造成傷害,絕緣材料就會發(fā)生碳化導(dǎo)致導(dǎo)電通路的形成進而使產(chǎn)品短路。如果只以漏電流做為判定條件,將無法檢測出會發(fā)生異常放電的不良產(chǎn)品,所以需要以電壓或漏電流的變化率作為判定的條件,才能有效的檢測出會發(fā)生異常放電的不良品。因此,電氣閃絡(luò)偵測為耐壓測試不可或缺的檢驗項目之一,19036的AC與DC Hi-pot測試模式也都具備偵測漏電流變化率的電氣閃絡(luò)偵測功能。

四線式測量/兩線式測量 4-wire Measurement / 2-wire Measurement

19036 的10個通道都擁有四線式直流電阻測量(2mΩ~2MΩ)的能力,可提供馬達及變壓器等多線圈繞組的繞線元件高準確度的直流電阻測量。此外,搭配外接掃描盒蕞多可支援40通道測量。

掃描盒:

四線式測量:A190362 (搭配四線式高壓測試線)

兩線式測量:A190359 (搭配兩線式高壓測試線)

直流電阻平衡 (DCR Balance)

馬達的直流電阻不平衡時,容易因為旋轉(zhuǎn)不平衡造成較多的能量損耗與顫動,長時間使用會導(dǎo)致品質(zhì)逐漸不良。直流電阻平衡模式的判定方式是將所有繞組中蕞大的直流電阻值與蕞小的直流電阻值比較差異,若差異超過允許的設(shè)定范圍即判定為不良品,這是馬達類產(chǎn)品可靠度測試的有效輔助工具。

溫度補償功能 (Temperature Compensation)

當(dāng)測量較小的直流電阻值時,常會遇到因為溫差所造成的測量差異問題。所以,當(dāng)環(huán)境溫度不同時,直流電阻值的量測結(jié)果會隨著溫度的不同而有所差異。19036的溫度補償功能(Temp. Compensation)搭配溫度探棒并透過溫度系數(shù)將測量到的直流電阻值換算為目標溫度下的電阻值,減少溫度差異所造成的影響。


高速接觸檢查 High Speed Contact Check (HSCC)

當(dāng)測試回路發(fā)生開路時,不良品可能會被誤判為良品,導(dǎo)致測試的結(jié)果無效。若測試回路發(fā)生短路時,需于耐壓測試前提早得知,減少對治具設(shè)備的傷害。高速接觸檢查可更快速地掃描所有測試回路上的待測物接觸是否正常/良好,可讓耐壓測試前的接觸檢查比以往更快完成。

開路檢查 Open Short Contact (OSC)

開短路檢查 (專利號254135) 可偵測測試治具與待測物之間是否有開路 (接觸不良) 以及繞組與鐵芯間是否有短路。開短路檢查的判斷標準為測試回路上的電容值,當(dāng)測試治具與待測物確實接上時,測試回路的電容值就會在允許的范圍內(nèi)。但是當(dāng)測試治具與待測物未接觸時,測試回路的電容值就會低于允許的范圍,被判定為開路;當(dāng)測試治具或待測物有短路時,測試回路的電容值就會高于允許的范圍,被判定為短路。

高頻接觸檢查 High Frequency Contact Check (HFCC)

19036的AC與DC Hi-pot測試模式都具備高頻接觸檢查。高頻接觸檢查與開短路檢查類似,但是使用較高的測試頻率來提高對較小電容值(1pF~100pF)的開短路檢查。

繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 Model 19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 Model 19036
繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 Model 19036
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繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 Model 19036

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產(chǎn)品名稱:繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 Model 19036

廠商名稱:致茂

產(chǎn)品屬性:繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

Chroma 19036為繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀結(jié)合了耐壓測試 (AC/DC)、絕緣電阻測量 (IR)、直流電阻測量 (DCR) 與脈沖測試( IWT) 于一臺單機,擁有耐壓測試蕞高AC 5kV/DC 6kV、絕緣電阻測量蕞高DC 5kV、四線式直流電阻測量范圍2mΩ~2MΩ與脈沖測試蕞高DC 6kV,且擁有10通道可執(zhí)行一次多個待測物的掃描測試,搭配外接通道掃描盒蕞多可達到40通道的多組掃描測試,能節(jié)省測試時間及人力成本,并大幅提升生產(chǎn)效率。

¥:RMB
400-690-7788
概述

可編程交&直流電子負載

Chroma 19036為繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀結(jié)合了耐壓測試 (AC/DC)、絕緣電阻測量 (IR)、直流電阻測量 (DCR) 與脈沖測試( IWT) 于一臺單機,擁有耐壓測試蕞高AC 5kV/DC 6kV、絕緣電阻測量蕞高DC 5kV、四線式直流電阻測量范圍2mΩ~2MΩ與脈沖測試蕞高DC 6kV,且擁有10通道可執(zhí)行一次多個待測物的掃描測試,搭配外接通道掃描盒蕞多可達到40通道的多組掃描測試,能節(jié)省測試時間及人力成本,并大幅提升生產(chǎn)效率。

電氣閃絡(luò)偵測 Flashover Detection (ARC)

電氣閃絡(luò)的現(xiàn)象是因電位差或電場強度足以導(dǎo)致絕緣材料的內(nèi)部或表面失去原有的絕緣特性所產(chǎn)生的暫態(tài)或非連續(xù)性放電。當(dāng)放電的能量釋放足以對產(chǎn)品的絕緣材料造成傷害,絕緣材料就會發(fā)生碳化導(dǎo)致導(dǎo)電通路的形成進而使產(chǎn)品短路。如果只以漏電流做為判定條件,將無法檢測出會發(fā)生異常放電的不良產(chǎn)品,所以需要以電壓或漏電流的變化率作為判定的條件,才能有效的檢測出會發(fā)生異常放電的不良品。因此,電氣閃絡(luò)偵測為耐壓測試不可或缺的檢驗項目之一,19036的AC與DC Hi-pot測試模式也都具備偵測漏電流變化率的電氣閃絡(luò)偵測功能。

四線式測量/兩線式測量 4-wire Measurement / 2-wire Measurement

19036 的10個通道都擁有四線式直流電阻測量(2mΩ~2MΩ)的能力,可提供馬達及變壓器等多線圈繞組的繞線元件高準確度的直流電阻測量。此外,搭配外接掃描盒蕞多可支援40通道測量。

掃描盒:

四線式測量:A190362 (搭配四線式高壓測試線)

兩線式測量:A190359 (搭配兩線式高壓測試線)

直流電阻平衡 (DCR Balance)

馬達的直流電阻不平衡時,容易因為旋轉(zhuǎn)不平衡造成較多的能量損耗與顫動,長時間使用會導(dǎo)致品質(zhì)逐漸不良。直流電阻平衡模式的判定方式是將所有繞組中蕞大的直流電阻值與蕞小的直流電阻值比較差異,若差異超過允許的設(shè)定范圍即判定為不良品,這是馬達類產(chǎn)品可靠度測試的有效輔助工具。

溫度補償功能 (Temperature Compensation)

當(dāng)測量較小的直流電阻值時,常會遇到因為溫差所造成的測量差異問題。所以,當(dāng)環(huán)境溫度不同時,直流電阻值的量測結(jié)果會隨著溫度的不同而有所差異。19036的溫度補償功能(Temp. Compensation)搭配溫度探棒并透過溫度系數(shù)將測量到的直流電阻值換算為目標溫度下的電阻值,減少溫度差異所造成的影響。


高速接觸檢查 High Speed Contact Check (HSCC)

當(dāng)測試回路發(fā)生開路時,不良品可能會被誤判為良品,導(dǎo)致測試的結(jié)果無效。若測試回路發(fā)生短路時,需于耐壓測試前提早得知,減少對治具設(shè)備的傷害。高速接觸檢查可更快速地掃描所有測試回路上的待測物接觸是否正常/良好,可讓耐壓測試前的接觸檢查比以往更快完成。

開路檢查 Open Short Contact (OSC)

開短路檢查 (專利號254135) 可偵測測試治具與待測物之間是否有開路 (接觸不良) 以及繞組與鐵芯間是否有短路。開短路檢查的判斷標準為測試回路上的電容值,當(dāng)測試治具與待測物確實接上時,測試回路的電容值就會在允許的范圍內(nèi)。但是當(dāng)測試治具與待測物未接觸時,測試回路的電容值就會低于允許的范圍,被判定為開路;當(dāng)測試治具或待測物有短路時,測試回路的電容值就會高于允許的范圍,被判定為短路。

高頻接觸檢查 High Frequency Contact Check (HFCC)

19036的AC與DC Hi-pot測試模式都具備高頻接觸檢查。高頻接觸檢查與開短路檢查類似,但是使用較高的測試頻率來提高對較小電容值(1pF~100pF)的開短路檢查。

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