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概述:
Chroma 19311系列電池芯脈沖測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯施加高壓脈沖來(lái)檢測(cè)正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。19311系列擁有最高6kV的脈沖輸出電壓、四線式的電壓量測(cè)與200MHz的高速取樣率對(duì)電池芯進(jìn)行脈沖測(cè)試,使用者可依需求選擇單通道測(cè)試儀(19311)或多通道掃描測(cè)試儀(19311-10)。
19311-10機(jī)型具備10個(gè)通道,可利用掃描測(cè)試的方式做多通道切換輸出檢測(cè),單機(jī)最多可檢測(cè)9個(gè)電池芯。搭配A190362掃描治具,最多可支持25通道,同時(shí)檢測(cè)24個(gè)電池芯。19311-10機(jī)型可快速對(duì)多個(gè)電池芯做掃描測(cè)試,此優(yōu)勢(shì)大幅節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本,適合應(yīng)用在生產(chǎn)在線來(lái)提高產(chǎn)能。
在鉛酸電池尚未注入電解液前,對(duì)鉛酸電池芯做高壓脈沖測(cè)試的主要目的是為了檢測(cè)電池芯里正負(fù)極板之間的絕緣距離與質(zhì)量、隔離膜是否存在、以及正負(fù)極板之間是否有短路,藉以找出劣質(zhì)或不良的電池芯。因此,使用脈沖測(cè)試的檢測(cè)方式可以提升鉛酸電池芯的質(zhì)量。
Chroma 19311系列可透過(guò)內(nèi)部電感與電池芯的諧振波形來(lái)分析電池芯的絕緣質(zhì)量差異。檢測(cè)的判定功能共有8種:面積比較(Area)、面積差比較(Diff-Area)、顫動(dòng)量偵測(cè)(Flutter)、二階微分偵測(cè)(Laplacian)、第一電壓峰值判定(V1)、第三電壓峰值判定(V3)、波峰比(Peak Ratio)及波峰差比(ΔPeak %)。
脈沖測(cè)試
脈沖測(cè)試是將一個(gè)非破壞性短暫且低能量的脈沖電壓施加在鉛酸電池芯上。當(dāng)施加脈沖測(cè)試時(shí),由于19311/19311-10的內(nèi)部有一個(gè)諧振電感,所以電池芯會(huì)與內(nèi)部電感產(chǎn)生諧振。將測(cè)試的諧振波形加以分析或與樣品的諧振波形進(jìn)行比對(duì)來(lái)判斷出鉛酸電池芯是否為良品。對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯做脈沖測(cè)試,主要是為了在注入電解液之前發(fā)現(xiàn)鉛酸電池芯是否有絕緣不良或是隔離膜不存在的問(wèn)題。在開(kāi)關(guān)打開(kāi)后,鉛酸電池芯與內(nèi)部電感諧振波形的電壓峰值衰減狀態(tài)代表著絕緣質(zhì)量的好壞。
八種判定功能
- 面積比較 (Area)
- 面積比較可用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯的正負(fù)極板之間是否絕緣不良或隔離膜不存在。面積比較是將測(cè)試的波形總面積與樣品的波形總面積做差異比較,總面積的差異表現(xiàn)出了電池芯絕緣程度的好壞。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí),在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電,瞬間的能量釋放導(dǎo)致波形瞬間快速衰減, 所以測(cè)試的波形總面積會(huì)比樣品的波形總面積小。
- 面積差比較 (Differential Area)
- 面積差比較可用來(lái)檢測(cè)待測(cè)物電容量的差異。面積差比較是測(cè)試的波形與樣品的波形不重迭的面積所占的比例,此比例的大小代表著待測(cè)物的電容量與樣品的電容量的差異,當(dāng)電容量越大波形諧振的頻率會(huì)越低,電容量越小波形諧振的頻率越高。
- 顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter)
- 顫動(dòng)量偵測(cè)可以用來(lái)做接觸檢查。顫動(dòng)量偵測(cè)是利用一階微分的計(jì)算方式計(jì)算出波形所產(chǎn)生的總量,由于當(dāng)沒(méi)有碰觸好或是沒(méi)有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí),電容量會(huì)比有接到待測(cè)物時(shí)還要小很多,所以波形諧振的頻率會(huì)非常高,導(dǎo)致波形的總量變大,因此可利用此特性來(lái)做接觸檢查的判斷。
- 二次微分偵測(cè) (Laplacian)
- 二次微分偵測(cè)可以用來(lái)偵測(cè)較小的放電。二次微分偵測(cè)是利用二次微分的計(jì)算方式,找出在脈沖測(cè)試的過(guò)程中是否有因?yàn)榘l(fā)生較小的放電,所造成測(cè)試波形發(fā)生的快速變化或快速轉(zhuǎn)折。
- 第一電壓峰值 (V1)
- 諧振波形中的第一個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí),在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電,會(huì)導(dǎo)致第一個(gè)電壓峰值比樣品的第一個(gè)電壓峰值低。
- 第三電壓峰值 (V3)
- 諧振波形中的第三個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí),在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電,能量的釋放會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。當(dāng)電池芯的絕緣質(zhì)量較差時(shí),因?yàn)槟芰繐p失的較快也較多,也會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。
- 波峰比 (Peak Ratio)
- 波峰比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。波峰比是波形的第五個(gè)電壓峰值與第三個(gè)電壓峰值的電壓比例,當(dāng)電池芯的等效并聯(lián)電阻(Rp)較小或絕緣的質(zhì)量較差時(shí),因?yàn)槟芰繐p耗的較多、較快,導(dǎo)致第五個(gè)電壓峰值變得更小,所以絕緣質(zhì)量較差的波峰比會(huì)比絕緣品質(zhì)較好的波峰比更小。波峰比的大小表現(xiàn)出電池芯正負(fù)極板之間絕緣質(zhì)量的狀態(tài)。
- 波峰差比 (ΔPeak %)
- 波峰差比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量是否接近樣品的絕緣質(zhì)量。波峰差比為測(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比的差異,利用比較的方式可以篩出絕緣質(zhì)量接近樣品絕緣質(zhì)量的產(chǎn)品。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量與樣品的絕緣質(zhì)量一樣時(shí),因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比相同,所以波峰差比為0。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量低于樣品的絕緣質(zhì)量時(shí),因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比會(huì)比樣品波形的波峰比小,所以波峰差比為負(fù)數(shù),表示待測(cè)物的絕緣質(zhì)量比樣品差。
概述:
Chroma 19311系列電池芯脈沖測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯施加高壓脈沖來(lái)檢測(cè)正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。19311系列擁有最高6kV的脈沖輸出電壓、四線式的電壓量測(cè)與200MHz的高速取樣率對(duì)電池芯進(jìn)行脈沖測(cè)試,使用者可依需求選擇單通道測(cè)試儀(19311)或多通道掃描測(cè)試儀(19311-10)。
19311-10機(jī)型具備10個(gè)通道,可利用掃描測(cè)試的方式做多通道切換輸出檢測(cè),單機(jī)最多可檢測(cè)9個(gè)電池芯。搭配A190362掃描治具,最多可支持25通道,同時(shí)檢測(cè)24個(gè)電池芯。19311-10機(jī)型可快速對(duì)多個(gè)電池芯做掃描測(cè)試,此優(yōu)勢(shì)大幅節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本,適合應(yīng)用在生產(chǎn)在線來(lái)提高產(chǎn)能。
在鉛酸電池尚未注入電解液前,對(duì)鉛酸電池芯做高壓脈沖測(cè)試的主要目的是為了檢測(cè)電池芯里正負(fù)極板之間的絕緣距離與質(zhì)量、隔離膜是否存在、以及正負(fù)極板之間是否有短路,藉以找出劣質(zhì)或不良的電池芯。因此,使用脈沖測(cè)試的檢測(cè)方式可以提升鉛酸電池芯的質(zhì)量。
Chroma 19311系列可透過(guò)內(nèi)部電感與電池芯的諧振波形來(lái)分析電池芯的絕緣質(zhì)量差異。檢測(cè)的判定功能共有8種:面積比較(Area)、面積差比較(Diff-Area)、顫動(dòng)量偵測(cè)(Flutter)、二階微分偵測(cè)(Laplacian)、第一電壓峰值判定(V1)、第三電壓峰值判定(V3)、波峰比(Peak Ratio)及波峰差比(ΔPeak %)。
脈沖測(cè)試
脈沖測(cè)試是將一個(gè)非破壞性短暫且低能量的脈沖電壓施加在鉛酸電池芯上。當(dāng)施加脈沖測(cè)試時(shí),由于19311/19311-10的內(nèi)部有一個(gè)諧振電感,所以電池芯會(huì)與內(nèi)部電感產(chǎn)生諧振。將測(cè)試的諧振波形加以分析或與樣品的諧振波形進(jìn)行比對(duì)來(lái)判斷出鉛酸電池芯是否為良品。對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯做脈沖測(cè)試,主要是為了在注入電解液之前發(fā)現(xiàn)鉛酸電池芯是否有絕緣不良或是隔離膜不存在的問(wèn)題。在開(kāi)關(guān)打開(kāi)后,鉛酸電池芯與內(nèi)部電感諧振波形的電壓峰值衰減狀態(tài)代表著絕緣質(zhì)量的好壞。
八種判定功能
- 面積比較 (Area)
- 面積比較可用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯的正負(fù)極板之間是否絕緣不良或隔離膜不存在。面積比較是將測(cè)試的波形總面積與樣品的波形總面積做差異比較,總面積的差異表現(xiàn)出了電池芯絕緣程度的好壞。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí),在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電,瞬間的能量釋放導(dǎo)致波形瞬間快速衰減, 所以測(cè)試的波形總面積會(huì)比樣品的波形總面積小。
- 面積差比較 (Differential Area)
- 面積差比較可用來(lái)檢測(cè)待測(cè)物電容量的差異。面積差比較是測(cè)試的波形與樣品的波形不重迭的面積所占的比例,此比例的大小代表著待測(cè)物的電容量與樣品的電容量的差異,當(dāng)電容量越大波形諧振的頻率會(huì)越低,電容量越小波形諧振的頻率越高。
- 顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter)
- 顫動(dòng)量偵測(cè)可以用來(lái)做接觸檢查。顫動(dòng)量偵測(cè)是利用一階微分的計(jì)算方式計(jì)算出波形所產(chǎn)生的總量,由于當(dāng)沒(méi)有碰觸好或是沒(méi)有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí),電容量會(huì)比有接到待測(cè)物時(shí)還要小很多,所以波形諧振的頻率會(huì)非常高,導(dǎo)致波形的總量變大,因此可利用此特性來(lái)做接觸檢查的判斷。
- 二次微分偵測(cè) (Laplacian)
- 二次微分偵測(cè)可以用來(lái)偵測(cè)較小的放電。二次微分偵測(cè)是利用二次微分的計(jì)算方式,找出在脈沖測(cè)試的過(guò)程中是否有因?yàn)榘l(fā)生較小的放電,所造成測(cè)試波形發(fā)生的快速變化或快速轉(zhuǎn)折。
- 第一電壓峰值 (V1)
- 諧振波形中的第一個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí),在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電,會(huì)導(dǎo)致第一個(gè)電壓峰值比樣品的第一個(gè)電壓峰值低。
- 第三電壓峰值 (V3)
- 諧振波形中的第三個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí),在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電,能量的釋放會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。當(dāng)電池芯的絕緣質(zhì)量較差時(shí),因?yàn)槟芰繐p失的較快也較多,也會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。
- 波峰比 (Peak Ratio)
- 波峰比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。波峰比是波形的第五個(gè)電壓峰值與第三個(gè)電壓峰值的電壓比例,當(dāng)電池芯的等效并聯(lián)電阻(Rp)較小或絕緣的質(zhì)量較差時(shí),因?yàn)槟芰繐p耗的較多、較快,導(dǎo)致第五個(gè)電壓峰值變得更小,所以絕緣質(zhì)量較差的波峰比會(huì)比絕緣品質(zhì)較好的波峰比更小。波峰比的大小表現(xiàn)出電池芯正負(fù)極板之間絕緣質(zhì)量的狀態(tài)。
- 波峰差比 (ΔPeak %)
- 波峰差比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量是否接近樣品的絕緣質(zhì)量。波峰差比為測(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比的差異,利用比較的方式可以篩出絕緣質(zhì)量接近樣品絕緣質(zhì)量的產(chǎn)品。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量與樣品的絕緣質(zhì)量一樣時(shí),因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比相同,所以波峰差比為0。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量低于樣品的絕緣質(zhì)量時(shí),因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比會(huì)比樣品波形的波峰比小,所以波峰差比為負(fù)數(shù),表示待測(cè)物的絕緣質(zhì)量比樣品差。